|
|
|
|
| Подписана в печать коллективная монография «Основы эллипсометрии» (Новосибирск: Наука, 1978), содержащая результаты более чем 10-летних исследований Института физики полупроводников СО АН СССР по развитию бесконтактного неразрушающего метода изучения физико-химических процессов на поверхности твердых тел.
Декабрь, 23—29. Новосибирский Академгородок посетил заместитель председателя Центра научных исследований СРВ проф. Нгуен Ван Тьен. |
|